顆粒表征分析儀器基于幾個(gè)不同原理，包括激光衍射法，動(dòng)態(tài)光散射法，超聲衰減法，圖像分析法。這些技術(shù)都可以用*的方式產(chǎn)生相似的結(jié)果，都可以用標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)學(xué)計(jì)算描述結(jié)果，并且都是上普遍接受的標(biāo)準(zhǔn)方法（ISO 標(biāo)準(zhǔn)方法）。 

1、激光衍射法：主要測(cè)定微米級(jí)顆粒。激光衍射法的結(jié)果計(jì)算可以在體積分布、面積分布，或數(shù)量分布的基礎(chǔ)上顯示。注意：粒度分布計(jì)算至少需要知道樣品的相對(duì)折射率和光吸收率以及非球形因子等參數(shù)，否則就會(huì)造成較大偏差，而得到這些參數(shù)對(duì)混合粉體顆粒是幾乎不可能的。這種方法是目前流行的方法，但它對(duì)少量大顆粒不敏感，并且只適用于球形或類球形顆粒。

2、動(dòng)態(tài)光散射法適用于納米級(jí)顆粒的測(cè)定。動(dòng)態(tài)光散射（DLS）的主要結(jié)果是強(qiáng)度分布平均值（稱為 Z 平均）和描述分布寬度的多分散指數(shù)（PDI）,其得到的粒徑稱為水合動(dòng)力學(xué)直徑（或水力直徑）。如果已知樣品的折射率，強(qiáng)度分布可以轉(zhuǎn)換成體積分布。光散射電泳法可測(cè)量 zeta 電位。

3、超聲衰減法基于體積分布的 超聲法粒度及 zeta 電位分析儀, 可覆蓋納米區(qū)域和微米區(qū)域的測(cè)量。其聲譜模型假設(shè)的結(jié)果是一個(gè)或兩個(gè)峰的正態(tài)分布。假設(shè)正態(tài)分布時(shí)，可以完整地描述結(jié)果的平均值和標(biāo)準(zhǔn)差，這是系統(tǒng)報(bào)告結(jié)果的一個(gè)常用方法。因?yàn)榱６确植加?jì)算需要知道樣品的聲學(xué)參數(shù)，在這些參數(shù)不時(shí)，很難與激光衍射法計(jì)算的結(jié)果對(duì)應(yīng)。但如果兩種方法各自需要的計(jì)算參數(shù)已知，則兩種技術(shù)的分析結(jié)果可以相符。

4、圖像分析法主要覆蓋微米到厘米區(qū)域的粒度測(cè)定。圖像分析的初級(jí)結(jié)果是建立在數(shù)量分布基礎(chǔ)上的，然后轉(zhuǎn)換成體積分布。這是*的有效轉(zhuǎn)換。圖像分析比任何其他技術(shù)和選項(xiàng)能提供多得多的數(shù)據(jù)值，它可以測(cè)量每個(gè)顆粒的粒徑，使用戶計(jì)算和報(bào)告粒度結(jié)果具有的靈活性。圖像分析儀器可報(bào)告顆粒的長(zhǎng)度分布，也可以建立基于顆粒形狀（不是球形）的體積分布。能有多少方法測(cè)量顆粒大小圖像法 zeta 電位分析儀是 zeta 電位分析的基準(zhǔn)儀器。